正置金相顯微鏡的鏡頭在載物臺上面，使用時(shí)將試塊試面朝上放在載物臺上，鏡頭在上，試塊正置在上，鏡頭從上向下對試面進(jìn)行觀(guān)測。廣泛應用于金相、巖相、集成電路、晶體等領(lǐng)域內的檢驗及科學(xué)研究工作。

正置金相顯微鏡在觀(guān)察時(shí)成像為正像，這對使用者的觀(guān)察與辨別帶來(lái)了很大的方便，除了對25mm高度以下的金屬試樣作分析鑒定外，并且更廣泛的應用于透明，半透明或不透明物質(zhì)。經(jīng)常用于觀(guān)察大于3微米小于20微米觀(guān)察目標，比如金屬陶瓷、電子芯片、印刷電路、LCD基板、薄膜、纖維、顆粒狀物體、鍍層等材料表面的結構、痕跡，都能有很好的成像效果。另外攝相系統可以方便的連接視屏和計算機進(jìn)行實(shí)時(shí)和靜動(dòng)態(tài)的圖像觀(guān)察、保存和編輯、打印結合各種軟件能進(jìn)行更專(zhuān)業(yè)的金相、測量、互動(dòng)教學(xué)領(lǐng)域的需要。

正置金相顯微鏡使用需要注意：

1、使用高倍鏡時(shí)禁止使用粗調焦旋鈕，否則易壓碎標本并損傷鏡頭。

2、轉動(dòng)物鏡轉換器時(shí)，禁止用手指直接推轉物鏡，防止物鏡光軸發(fā)生偏斜，轉換器螺紋因受力不均勻導致?lián)p壞。